1　篩選 screening

一種通過(guò)檢驗(yàn)剔除不合格或有可能早期失效產(chǎn)品的方法。檢驗(yàn)包括在規(guī)定環(huán)境條件下的目視檢查、實(shí)體尺寸測(cè)量和功能測(cè)量等。某些功能測(cè)量是在強(qiáng)應(yīng)力下進(jìn)行的。(GJB451-90)

為剔除或檢出有缺陷的或早期失效的產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗(yàn)或一組試驗(yàn)。(GB/T3187-94)

通過(guò)檢查以剔除不合格的或顯出早期失效產(chǎn)品的程序。這包括在特定的環(huán)境條件下目視檢查，物理尺寸測(cè)量和功能的性能測(cè)量。(MIL-STD-721C-81)

編者注：GB/T3187中，此術(shù)語(yǔ)稱篩選試驗(yàn)(screening test)。

2　環(huán)境應(yīng)力篩選 environmental stress screening (ESS)

在電子產(chǎn)品上施加隨機(jī)振動(dòng)及溫度循環(huán)應(yīng)力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期失效的一種工序或方法。(GJB1032-90)

為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗(yàn)。(引自GJB451-90中“環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)”的定義)

為暴露產(chǎn)品的薄弱部分及質(zhì)量缺陷，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗(yàn)。(MIL-STD-721C-81)

在環(huán)境應(yīng)力作用下的一系列試驗(yàn)，目的是暴露薄弱部件及工藝缺陷，以便糾正。(MIL-STD-785B-80)

3　老練 burn in http://www.KeKaoXing.com

一種讓產(chǎn)品在應(yīng)力下工作一段時(shí)間以穩(wěn)定其特性的方法。(GJB451-90)

對(duì)于可修理的產(chǎn)品，在規(guī)定的環(huán)境下執(zhí)行著每個(gè)產(chǎn)品功能的硬件隨著早期失效期的每個(gè)失效不斷地加以修復(fù)性維修，其可靠性得到提高的過(guò)程。對(duì)于不修理的產(chǎn)品，則是產(chǎn)品置于功能運(yùn)行的一種篩選試驗(yàn)。(GB/T3187-94)

4　可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn) reliability growth test

為暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，并證明改進(jìn)措施能防止薄弱環(huán)節(jié)再現(xiàn)而進(jìn)行的試驗(yàn)。(根據(jù)GJB451-90改寫(xiě))

5　可靠性研制與增長(zhǎng)試驗(yàn) reliability development and growth test

為查出缺陷并證實(shí)有關(guān)的糾正措施能防止這些設(shè)備缺陷重新出現(xiàn)而做的一系列試驗(yàn)(也稱為“TAAF”試驗(yàn))。(MIL-STD-785B-80)

為暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，并證明改進(jìn)工作能防止其在使用狀態(tài)下再出現(xiàn)而做的一系列試驗(yàn)。注意：對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品的修理不構(gòu)成對(duì)薄弱環(huán)節(jié)的改進(jìn)(也稱為“試驗(yàn)、分析和改進(jìn)(TAAF)”)。(MIL-STD-721C-81)

6　可靠性鑒定試驗(yàn) reliability qualification test

為確定產(chǎn)品與規(guī)定的可靠性設(shè)計(jì)要求的一致性，由訂購(gòu)方或其代表用有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定條件下所作的試驗(yàn)。并以此作為批準(zhǔn)定型的依據(jù)。(根據(jù)GJB451-90改寫(xiě))

關(guān)鍵詞： 可靠性 試驗(yàn) 驗(yàn)證術(shù)語(yǔ)